次世代不揮発性メモリのための物質探索へ

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2025-07-23

natural_sciences

{'items': [{'key': '59kda', 'term': 'スピントロニクス', 'description': {'blocks': [{'key': '7c9oh', 'text': 'スピンとエレクトロニクスを組み合わせた造語。電子がもつ電荷の自由度だけでなく、電子の「スピン」と呼ばれる性質も利用することで、従来のエレクトロニクスでは実現できない機能や性能を目指す研究分野。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}, {'key': 'amjk3', 'term': 'スピンホール効果', 'description': {'blocks': [{'key': 'fa6br', 'text': '貴金属や半導体などの試料に電場をかけたとき、電場と垂直方向にスピン流が生じる現象として理解されている。実験では、試料の両端に上向きスピンと下向きスピンが生じることが観測されている。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}, {'key': '94gbl', 'term': '第一原理計算', 'description': {'blocks': [{'key': 'f5j2f', 'text': '実験データに頼ることなく、原子の種類と位置の情報から、物質の性質をコンピュータで計算する方法。未知の物質の性質の探索や、実験では測定のできない物理現象を調べることができる。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}, {'key': '7nmi8', 'term': 'スピン軌道相互作用', 'description': {'blocks': [{'key': '3ut6b', 'text': '電子のスピンと軌道角運動量の間にはたらく相互作用で、一般的に重い元素で大きくなる傾向がある。これにより電子は動きながらそのスピンの向きを変化させ続けている。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}, {'key': '5au9s', 'term': '密度汎関数理論', 'description': {'blocks': [{'key': 'a9g81', 'text': '電子の量子力学的な波動関数ではなく、電子密度を用いて物理量を表現する枠組み。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}, {'key': '518f0', 'term': '最局在ワニエ関数法', 'description': {'blocks': [{'key': '2c7uf', 'text': '原子に束縛された電子軌道のように、空間的に局在した波動関数を構成する方法。密度汎関数理論によって得られた波動関数の一部を精度よく再現することで、物理量の計算コストを削減することができる。', 'type': 'unstyled', 'depth': 0, 'inlineStyleRanges': [], 'entityRanges': [], 'data': {}}], 'entityMap': {}}}]}

['isir']

['下出敦夫', '南谷英美']

スピン流の定義の不定性は、スピンホール効果の研究者のおそらく誰もが認識しながら、それ以外の方法が困難であるという理由から目を背けてきた問題であると考えています。この問題に対して一定の解答を与え、さらに実材料に対して予測する方法を確立できたことは、スピンホール効果の微視的理解を大きく進め、スピントロニクスの実験と理論をつなぐ架け橋になると期待しています。

https://rd.iai.osaka-u.ac.jp/image/photo_drwan_640.png

下出 敦夫

准教授

産業科学研究所

https://rd.iai.osaka-u.ac.jp/ja/c01c47a54741b141.html